为满足国内科研机构、大学、企业研发或量产的特定需求，半导体晶圆测试探针质量的好坏，很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。目前国际间比较知名的测试探针品牌有QA，Ingun，IDI，PTR，FM，Leeno等。按照测试探针的应用领域来区分，测试探针又分为常规ICT探针、半导体测试探针、RF高频测试探针、大电流探针、电池接触探针。按照探针的结构来区分，还可以分为常规单头弹簧针、双头BGA测试针、针套转接双头针等类别。在探针的选型前期，需要重点考虑的几个参数分别为：测试探针的间距、选择待测对象合适的头型、测试承载的电流、测试运动的行程以及需要选择的弹力等。
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